France – Scanning electron microscopes – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques

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France – Microscopes électroniques à balayage – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques

🇫🇷 FranceContracting authority: Université Gustave Eiffel

Estimated value

Not disclosed

Deadline

Aug 26, 2026

Published

Jun 25, 2026

Procedure

Open

Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques

Description shown in the original language of the notice.

CPV classification

38511100 — Scanning electron microscopes

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